НИИ микрографии

Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии

  • Увеличить размер шрифта
  • Размер шрифта по умолчанию
  • Уменьшить размер шрифта

Новости

Анонсы


20.09.2017Новости и анонсы

Внимание! 20.09.2017 состоялись выборы директора НИИ микрографии.

По результатам голосования избирательная комиссия установила, что наибольшее количество голосов получил Кривулькин И. М.

Подробнее...



14.09.2017Новости и анонсы

14 сентября 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

  1. О рассмотрении проекта Тематического плана прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии на 2018 год.




12.09.2017Новости и анонсы

В августе 2017 Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международным техническим комитетом ISO/TC 42 «Фотография» в области стандартизации провел онлайн-голосование одного проекта международного стандарта на указанной стадии разработки:

  • ISO/CD 19093 Фотография – Цифровые фотоаппараты – Измерение характеристик низкой освещенности (Photography – Digital cameras – Measuring low light performance) (на стадии опроса от ТК 42).

Проект международного стандарта обработано на соответствие директивам ИСО/МЭК 2011, часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний.
Голосование по этому стандарту проведено в срок, указанный секретариатом ISO/ТС непосредственно в проекте международного стандарта.





11.09.2017Новости и анонсы

11 сентября 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

  1. О рассмотрении оригинал-макета номера журнала «СФД» № 2 (23) 2017.




02.08.2017Новости и анонсы

В июле 2017 Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международным техническим комитетом ISO/TC 42 «Фотография» в области стандартизации провел онлайн-голосование одного проекта международного стандарта на указанной стадии разработки:

  • ISO/SR 12651-1 Электронный документооборот – Словарь – Часть 1: Представление электронного документа (Electronic document management – Vocabulary – Part 1: Electronic document imaging) (на стадии пересмотра от ТК 171).

Проект международного стандарта обработано на соответствие директивам ИСО/МЭК 2011, часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний.
Голосование по этому стандарту проведено в срок, указанный секретариатом ISO/ТС непосредственно в проекте международного стандарта.





25.07.2017Новости и анонсы

25 июля 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос:

  1. О результате работы по исследованию задачи входного контроля качества электронных паспортов потенциально опасных объектов для ее автоматизации.




12.07.2017Новости и анонсы

12 июля 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос:

  1. Об утверждении Положения про организационный комитет по проведению выборов директора НИИ микрографии и Положения об избирательной комиссии.




05.07.2017Новости и анонсы

05 июля 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос:

  1. О результате работы по исследованию процессов научно-организационной деятельности в сфере страхового фонда документации на соответствие изменениям действующего законодательства.




03.07.2017Новости и анонсы

В июне 2017 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 42 «Фотография», ISO/TC 46 «Информация и документация», ISO/TC 171 «Управление документооборотом» в области стандартизации провел онлайн-голосование трьох проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • ISO/DIS 516 Затвор фотокамеры – время экспонирования – Общие понятия и измерения механических параметров затвора (Camera shutters – Timing – General definition and mechanical shutter measurements) (на стадии опроса от ТК 42);
  • ISO/SR 832 Информация и документация – Библиографическое описание и ссылки – Правила сокращения библиографических терминов (Information and documentation – Bibliographic description and references – Rules for the abbreviation of bibliographic terms) (на стадии пересмотра от ТК 46);
  • ISO/NP 18949 Изобразительные материалы – Цветные фотографические отпечатки – Метод испытания устойчивости изображений в условиях низкой влажности (Imaging materials – Reflection colour photographic prints – Method for testing stability under low humidity conditions) (на стадии новой рабочей темы от ТК 171).

Проекты международных стандартов отработаны на соответствие Директивам ИСО/МЭК 2011, Часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний.
Голосование по этим стандартам проведено в сроки, указанные секретариатами ISO/ТС непосредственно в проектах международных стандартов.





22.06.2017Семинары, конференции, материалы в СМИ

В июне 2017 года в городе Одесса специалисты НИИ микрографии Бабенко Владимир Владимирович и Подорожный Вячеслав Иванович участвовали в Международной научно-практической конференции из серии «ОЦИФРОВАННОЕ ДОСТОЯНИЕ: СОХРАНЕНИЕ, ДОСТУП, РЕПРЕЗЕНТАЦИЯ», посвященной вопросам применения технологий оцифровки для долгосрочного хранения исторического, культурного и научного достояния, которое хранится в архивах, музеях, библиотеках и частных коллекциях. Целью этой конференции было ознакомление специалистов с передовой мировой практикой, обучение технологиям оцифровки, формированию и интеграции цифровых коллекций, методам их распространения и использования.

На конференции выступили специалисты НИИ микрографии с докладами:

  • Бабенко Владимир Владимирович (в соавторстве с Тимровым А. А., Надточий И. И.) «Комплексная информация о культурных ценностях, сохранении и воссоздании ее с заданным качеством»;
  • Подорожный Вячеслав Иванович (в соавторстве с Егоровым П. М., Яковченко А. И.) «Современные тенденции развития страхового фонда документации на культурное наследие»;
  • Подорожный Вячеслав Иванович (в соавторстве с Козыревым В. М., Журавлем А. Г., Ткаченко В. П.) «Использование цифровых технологий в создании страхового фонду документации».

После проведения Международной научно-практической конференции специалисты НИИ микрографии Бабенко Владимир Владимирович и Подорожный Вячеслав Иванович активно участвовали в обсуждении результатов этого мероприятия. По результатам обсуждения предоставлены предложения от НИИ микрографии к «Обращению в Музейный Совет при Министерстве культуры Украины».

Обращение в Музейный Совет при Министерстве культуры Украины

По результатам первой летней школы цифровых компетенций по тематике Международной научно-практической конференции из серии «Оцифрованное достояние: сохранение, доступ, репрезентация», которая состоялась 19-23 июня 2017 года в г. Одессе, специалисты НИИ микрографии предлагают включить в Меморандум для Музейного совета рекомендации такого содержания:

«Для обеспечения долгосрочного сохранения и воссоздания с заданным качеством информации о культурных ценностях, существенной для их реконструкции, рекомендовать следующее:

  1. Описывать музейные предметы, применяя стандарт CDWA (Categories for the Description of Works of Art – Категории для описания произведений искусства) как образец наиболее полной атрибуции, которая широко применяется европейским сообществом.
  2. Определять среди атрибутов, которые содержатся в этом стандарте, такие, визуализация которых наиболее существенна для реконструкции культурных ценностей.
  3. Дополнять выделенные атрибуты экспертными требованиями искусствоведов, реставраторов, архитекторов, историков и т. п.
  4. Создавать цифровые изображения, которые отражают выделенные согласно п. 2, 3 атрибуты, фиксировать их на микрофильмах в виде, который обеспечивает долгосрочное хранение и воспроизведение с заданным качеством информации о культурных ценностях по технологиям государственной системы страхового фонда документации.».




02.06.2017Новости и анонсы

В мае 2017 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 42 «Фотография», ISO/TC 46 «Информация и документация» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • ISO/CD 20674-1 Информация и документация – Транслитерация рукописей, используемых в Таиланде – Часть 1: Транслитерация Аксон-Тай-Ной (Information and documentation – Transliteration of scripts in use in Thailand – Part 1: Transliteration of Akson-Thai-Noi) (на стадии комитета от ТК 46);
  • ISO/SR 18941 Изобразительные материалы – Метод испытания устойчивости во время обесцвечивания озоном (Imaging materials – Colour reflection prints – Test method for ozone gas fading stability) (на стадии пересмотра от ТК 42).

Проекты международных стандартов отработаны на соответствие Директивам ИСО/МЭК 2011, Часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний.
Голосование по этим стандартам проведено в сроки, указанные секретариатами ISO/ТС непосредственно в проектах международных стандартов.





29.05.2017Новости и анонсы

29 мая 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос:

  1. О состоянии планирования научных работ, выполнение которых запланировано на 2018 год.




19.05.2017Семинары, конференции, материалы в СМИ

18 мая 2017 г. на базе НИИ микрографии проходила работа секции № 25 «Страховой фонд документации: актуальные проблемы и методы обработки и хранения информации» ΧΧV Международной научно-практической конференции (MicroCAD-2017) Национального технического университета «Харьковский политехнический институт».
В работе секции приняли участие 22 специалиста, которые представляли: Центральный государственный научно-технический архив Украины, Национальный университет гражданской защиты Украины, Государственный архив Харьковской области, специальные учреждения страхового фонда документации Украины, НИИ микрографии и другие организации.
Одновременно 18–19 мая 2017 г. в НИИ микрографии (г. Харьков) состоялась X Научно-техническая конференция «Современное состояние и проблемные вопросы страхового фонда документации, перспективы развития и взаимодействия».
На конференцию подано тезисы 39 докладов. В роботе конференции приняли участие 53 специалиста.

Подробнее...



10.05.2017Новости и анонсы

В апреле 2017 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 42 «Фотография», ISO/TC 46 «Информация и документация» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • ISO/FDIS 18941 Изобразительные материалы – Цветные рефлексные принты – Метод испытаний светопрочности под действием озона (Imaging materials – Colour reflection prints – Test method for ozone gas fading stability) (на стадии утверждения от ТК 42);
  • ISO/CD 19580 Информация и документация – Международная статистика архивов (Information and documentation – International archives statistics) (на стадии комитета от ТК 46).

Проекты международных стандартов отработаны на соответствие Директивам ИСО/МЭК 2011, Часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний.
Голосование по этим стандартам проведено в сроки, указанные секретариатами ISO/ТС непосредственно в проектах международных стандартов.





24.04.2017Новости и анонсы

В апреле 2017 года НИИ микрографии был награжден Дипломом за участие во Всеукраинском конкурсе «Изобретение года - 2016» (патенты №94704 и №102938).
С результатами Всеукраинского конкурса «Изобретение года - 2016» можно ознакомиться на сайте Государственного предприятия «Украинский институт интеллектуальной собственности» и на сайте Всеукраинского конкурса «Изобретение года - 2016».





31.03.2017Семинары, конференции, материалы в СМИ

30 марта 2017 специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе научно-практического семинара VIII Лунёвские чтения «Проблемы сохранения музейных коллекций», который состоялся в Национальном университете имени В. Н. Каразина г. Харьков. В семинаре приняли участие 44 специалиста, которые представляли 36 музеев и научных учреждений страны.
Особое внимание вызвали доклады специалистов НИИ микрографии по темам: «Проблемные вопросы сохранения комплексной информации о культурных ценностях и восстановления ее с заданным качеством» Бабенка В. В. и «Перспективы применения документов страхового фонда документации Украины для восстановления утраченных музейных памятников» Болбаса А. Н.





31.03.2017Семинары, конференции, материалы в СМИ

29 – 30 марта 2017 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в организации работы Международной научно-практической конференции молодых ученых «Проблемы и перспективы обеспечения гражданской защиты», которая состоялась в Национальном университете гражданской защиты Украины г. Харьков. В форуме приняли участие почти 500 молодых научных работников из Азербайджана, Беларуси, Болгарии, Польши, Казахстана и многих регионов Украины.
В ходе научного форума участники приняли резолюцію.
Одновременно принято участие в работе Отраслевой конкурсной комиссии ІІ этапа Всеукраинской студенческой олимпиады 2016/2017 учебного года по дисциплине «Пожарная безопасность», на которую в Харьков приехало почти 50 участников из разных регионов нашего государства.

Подробнее...



23.03.2017Новости и анонсы

23 марта 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос:

  1. О рассмотрении оригинал-макета журнала «СФД (Страховой фонд документации)» № 1 (22) 2017.




16.03.2017Семинары, конференции, материалы в СМИ

14-15 марта 2017 года на базе Центральной научной библиотеки Харьковского национального университета имени В.Н. Каразина и НИИ микрографии состоялся семинар по вопросам сохранения и безопасности библиотечных фондов.

Подробнее...



06.03.2017Новости и анонсы

Постановлением Кабинета министров Украины от 26 октября 2016 № 745 (вступило в силу 1 ноября 2016 года) внесены изменения в постановление Кабинета министров Украины от 25 марта 2015 № 302, согласно которым утвержден новый образец и техническое описание паспорта гражданина Украины с бесконтактным электронным носителем и изложены в новой редакции Порядок оформления, выдачи, обмена, пересылки, изъятия, возвращения государству, признание недействительным и уничтожение паспорта гражданина Украины.





20.01.2017Новости и анонсы

В декабре 2016 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 46 «Информация и документация», ISO/TC 171 «Управление документооборотом» и ISO/TC 292 «Безопасность» в области стандартизации провел онлайн-голосования трех проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • ISO/NP 21740 Безопасность и отказоустойчивость – Руководство по процессу оценки сложности с целью повышения безопасности и отказоустойчивости (Security and resilience – Guideline for complexity assessment process to improve security and resilience) (на стадии новой рабочей темы TC 292);
  • ISO/SR 10244 Управление документооборотом – Основы и анализ бизнес-процессов (Document management – Business process baselining and analysis) (на стадии пересмотра от TC 171);
  • ISO/CD 23081-1 Информация и документация – Процессы управления записями – Метаданные для записей – Часть 1 – Принципы (Information and documentation – Records management processes – Metadata for records – Part 1: Principles) (на стадии комитета от TC 46).

Проекты международных стандартов обработано на соответствие директивам ИСО/МЭК 2011, часть 2: Правила построения и оформления международных стандартов, без замечаний.
Голосование по этим стандартам проведения в сроки, указанные секретариатами ISO/ТС непосредственно в проектах международных стандартов.





11.01.2017Новости и анонсы

10 января 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрены вопросы:

  1. О результатах выполнения Тематического плана прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии на 2016 год.
  2. Об определении Перечня особо важных работ по Тематическому плану прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии на 2017 год.




03.01.2017Новости и анонсы

29 декабря 2016 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

  1. Об итогах деятельности научных школ НИИ микрографии в 2016 году.




18.10.2016Семинары, конференции, материалы в СМИ

11-13 октября специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе ХV Международного выставочного форума «Технологии защиты/ПожТех – 2016» (далее – Форум), который был проведен в городе Киеве на территории Международного выставочного центра (Броварской проспект, 15, ст. метро «Левобережная»). На этом Форуме специалисты НИИ микрографии имели возможность представить деятельность НИИ микрографии и предложить свои услуги по внедрению перспективных разработок и инновационных технологий в Украине.

Подробнее...



20.09.2017Новости и анонсы

20 октября 2017 года состоится заседание Научно-технического совета института, на котором будут рассмотрены вопросы:

  1. Об одобрении распределения ответственных исполнителей и руководителей научных тем согласно проекту Тематического плана прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии на 2018 год.
  2. О результате работы по исследованию видов документации в сферах разработки и внедрения промышленной продукции, проектирование, строительство, ввод в эксплуатацию и восстановление объектов строительства различного функционального назначения и установления требований к ее комплектности для создания страхового фонда документации.




15.09.2017Семинары, конференции, материалы в СМИ

10 – 13 октября 2017 г. специалисты НИИ микрографии планируют принять участие в работе ХVI Международного выставочного форума «Технологии Защиты/ПожТех – 2017» (дальше – Форум), который проводится в г. Киеве на территории международного выставочного центра (Броварской проспект, 15, ст. метро «Левобережная»).
На выставочном форуме специалисты института будут представлять деятельность НИИ микрографии и предлагать свои услуги по внедрению перспективных разработок и инновационных технологий в Украине.