• С 18 по 22 июня 2018 года проводятся очередные международные научно-практические мероприятия из серии «Оцифрованное достояние: консолидация, интеграция, креативность» (г. Одесса). НИИ микрографии является одним из постоянных и активных участников этих мероприятий.

  • 29 мая - 1 июня 2018 года в Астрономической обсерватории Киевского национального университета имени Тараса Шевченко состоялась Международная конференция «Astronomy and Space Physics». Во время работы секции «Astrometry and Small Bodies of the Solar System» сделано содоклад «Исследование возможности повышения точности обработки астрофотоматериала путем оцифровки бесконтактным способом с использованием цифровой зеркальной фотокамеры» (авторы – Бабенко В. В., Казанцева Л. В., Савич А. В., Тимров А. О.).

  • В мае 2018 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 42 «Фотография», ISO/TC 171 «Управление документооборотом» и в области стандартизации провел онлайн-голосование трех проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • 18 мая 2018 года в Государственном мемориальном музее М. Грушевского (г. Львов) в рамках празднования 20-летнего юбилея музея состоялся «Форум музейных инноваций». На форуме обсуждалась тема «Музеи в сети: новые методы, новые посетители». Участники ознакомились с информационными и визуальными технологиями, применением их в музейной практике, созданием цифрового музейного контента и применением программных и технических решений к новым технологиям интерактивной музейной коммуникации.

  • 17-18 мая 2018 года в НИИ микрографии (г. Харьков) состоялась XI Научно-техническая конференция «Современное состояние и проблемные вопросы страхового фонда документации, перспективы развития и взаимодействия». На конференцию подано тезисы 29 докладов. В работе конференции приняли участие 54 участника. В рассмотрении вопросов приняли участие 4 доктора наук и 10 кандидатов наук.

  • 17 мая 2018 года на базе НИИ микрографии состоялась работа секции № 22 «Страховой фонд документации: актуальные проблемы и методы обработки и хранения информации» ΧΧVI Международной научно-практической конференции (MicroCAD-2018) Национального технического университета «ХПИ». На заседании секции было представлено 13 докладов. В работе секции приняли участие 27 специалистов, которые представляли: Центральный государственный научно-технический архив Украины, Центральный государственный электронный архив Украины, Национальный университет гражданской защиты Украины, специальные учреждения страхового фонда документации Украины, НИИ микрографии и другие организации.

  • 11 мая 2018 года состоялось очередное заседание научно-методического совета Государственного архива Харьковской области, на котором, в частности, состоялись взаимные консультации по поводу проекта «Инструкции по электронному копированию документов».

  • В апреле 2018 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 42 «Фотография», ISO/TC 46 «Информация и документация» и в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • 5 апреля 2018 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрены вопросы:

    1. О результате работы по исследованию информационного наполнения Государственного реестра документов страхового фонда документации Украины и разработки нового классификатора документов страхового фонда документации Украины.
    2. О ходе работы по разработке метода и технологии создания изображений в цифровом виде, содержащие информацию о культурных ценностях, для формирования, ведения и использования страхового фонда документации Украины.
  • 27 марта 2018 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос: "О рассмотрении оригинал-макета номера журнала «СФД (Страховой фонд документации)» № 1 (24) 2018"

Перейти к полному списку актуальных новостей

Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии
Copyright © 2018