• 9 февраля 2018 года состоялось очередное заседание научно-методического совета Государственного архива Харьковской области, в котором принял участие научный сотрудник НИИ микрографии Бабенко В. В.

  • В январе 2018 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международным техническими комитетами ISO/TC 171 «Управление документооборотом», ISO/TC 292 «Безопасность» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указаных стадиях разработки.

  • 10 января 2018 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором были рассмотрены вопросы:

    1. Об итогах выполнения Тематического плана прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии в 2017 году.
    2. Об определении Перечня особо важных работ по тематическому плану прикладных исследований и опытно-конструкторских (технологических) работ НИИ микрографии в 2018 году.
  • 22 декабря 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором состоялись выборы председателя Научно-технического совета НИИ микрографии, его заместителя и секретаря.

  • Уважаемые коллеги! Примите наши искренние поздравления в связи с юбилеем создания технического комитета стандартизации Украины «Страховой фонд документации» (ТК 40)!

    14 декабря 2017 года исполняется 25 лет со дня создания ТК 40!

    Спасибо за Ваше участие и помощь в решении задач национальной стандартизации, выполнение которых будет способствовать развитию Украины! Надеемся на дальнейшее плодотворное и эффективное сотрудничество.

  • 12 декабря 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос: "О результатах работы по разработке метода и технологии создания изображений в цифровом виде, содержащие информацию о культурных ценностях, для формирования, ведения и использования страхового фонда документации Украины".

  • 7-8 декабря 2017 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе Международной научно-практической конференции «Архивы в современном мире: вызовы и задачи» (г. Киев).

  • В ноябре 2017 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 46 «Информация и документация», ISO/TC 171 «Управление документооборотом» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • 30 октября 2017 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором был рассмотрен вопрос: "О принятии результатов проведения аттестации научных работников НИИ микрографии за 2017 год".

  • 21-22 ноября 2017 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе V Международного научно-практического семинара «Оцифрованное достояние: сохранение, доступ, репрезентация» (далее – Семинар), который проводился в г. Киеве на базе Государственного политехнического музея при КПИ имени Игоря Сикорского (проспект Победы, 37, корпус 6).

Перейти к полному списку актуальных новостей

Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии
Copyright © 2018