• 6 сентября 2019 года в Государственном архиве Харьковской области состоялось заседание научно-методического совета, в котором принял участие младший научный сотрудник НИИ микрографии Савич А. В.

  • 20 июня 2019 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в организации и работе Международного круглого стола «Проблемы информатизации архивного дела: цифровизация как средство обеспечения потребностей информационного общества (к 50-летию ЦГНТА Украины)», который проводился в Харьковском национальном университете имени В. Н. Каразина.

  • 16 – 17 мая 2019 в НИИ микрографии (г. Харьков) состоялась XII Научно-техническая конференция «Современное состояние и проблемные вопросы страхового фонда документации, перспективы развития и взаимодействия».

  • 15 - 17 мая 2019 года специалисты НИИ микрография приняли участие в работе ΧΧVII Международной научно-практической конференции (MicroCAD-2019) Национального технического университета «ХПИ».

  • 29 марта 2019 года сотрудники НИИ микрографии приняли участие в работе научно-практического семинара - Х Луневские чтения «Музей в эпоху глобальных трансформаций: проблемы и перспективы», который состоялся в Национальном университете имени В. Н. Каразина, г. Харьков.

  • 21 февраля 2019 года представители НИИ микрографии приняли участие в работе научно-практического семинара «Предотвращение чрезвычайных ситуаций и их ликвидация», который состоялся в г. Харькове в Национальном университете гражданской защиты Украины.

  • 9-12 октября 2018 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в роботе XVII Международной специализированной выставки «Технологии защиты/пожтех - 2018» (далее - Форум), которая проводилась на базе ООО «Международный выставочный центр», г. Киев, Броварский просп., 15.

  • с 21 по 23 июня 2018 в года Харькове был проведен Международный круглый стол «Проблемы информатизации: процессы цифровизации (теория и практика)» на выполнение приоритета № 1 Государственной архивной службы Украины на 2018 год в части цифровизации всех процессов архивного дела и делопроизводства.

  • С 18 по 22 июня 2018 года проводятся очередные международные научно-практические мероприятия из серии «Оцифрованное достояние: консолидация, интеграция, креативность» (г. Одесса). НИИ микрографии является одним из постоянных и активных участников этих мероприятий.

  • 29 мая - 1 июня 2018 года в Астрономической обсерватории Киевского национального университета имени Тараса Шевченко состоялась Международная конференция «Astronomy and Space Physics». Во время работы секции «Astrometry and Small Bodies of the Solar System» сделано содоклад «Исследование возможности повышения точности обработки астрофотоматериала путем оцифровки бесконтактным способом с использованием цифровой зеркальной фотокамеры» (авторы – Бабенко В. В., Казанцева Л. В., Савич А. В., Тимров А. О.).

  • 18 мая 2018 года в Государственном мемориальном музее М. Грушевского (г. Львов) в рамках празднования 20-летнего юбилея музея состоялся «Форум музейных инноваций». На форуме обсуждалась тема «Музеи в сети: новые методы, новые посетители». Участники ознакомились с информационными и визуальными технологиями, применением их в музейной практике, созданием цифрового музейного контента и применением программных и технических решений к новым технологиям интерактивной музейной коммуникации.

  • 17-18 мая 2018 года в НИИ микрографии (г. Харьков) состоялась XI Научно-техническая конференция «Современное состояние и проблемные вопросы страхового фонда документации, перспективы развития и взаимодействия». На конференцию подано тезисы 29 докладов. В работе конференции приняли участие 54 участника. В рассмотрении вопросов приняли участие 4 доктора наук и 10 кандидатов наук.

  • 17 мая 2018 года на базе НИИ микрографии состоялась работа секции № 22 «Страховой фонд документации: актуальные проблемы и методы обработки и хранения информации» ΧΧVI Международной научно-практической конференции (MicroCAD-2018) Национального технического университета «ХПИ». На заседании секции было представлено 13 докладов. В работе секции приняли участие 27 специалистов, которые представляли: Центральный государственный научно-технический архив Украины, Центральный государственный электронный архив Украины, Национальный университет гражданской защиты Украины, специальные учреждения страхового фонда документации Украины, НИИ микрографии и другие организации.

  • 11 мая 2018 года состоялось очередное заседание научно-методического совета Государственного архива Харьковской области, на котором, в частности, состоялись взаимные консультации по поводу проекта «Инструкции по электронному копированию документов».

  • 28-29 марта 2018 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе Международной научно-практической конференции молодых ученых «Проблемы и перспективы обеспечения гражданской защиты», которая состоялась в Национальном университете гражданской защиты Украины г. Харьков. В форуме приняли участие почти 500 молодых научных работников из Азербайджана, Беларуси, Болгарии, Польши, Казахстана, Латвии, Германии и высших учебных заведений многих регионов Украины.

  • 22 марта 2018 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе круглого стола на тему «Паспортизация объектов критической инфраструктуры: формирование системы анализа информации», который был организован совместно с Национальным институтом стратегических исследований, Государственной архивной службой Украины и Научно-исследовательским, проектно-конструкторским и технологическим институтом микрографии.

  • 9 февраля 2018 года состоялось очередное заседание научно-методического совета Государственного архива Харьковской области, в котором принял участие научный сотрудник НИИ микрографии Бабенко В. В.

  • 7-8 декабря 2017 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе Международной научно-практической конференции «Архивы в современном мире: вызовы и задачи» (г. Киев).

  • 21-22 ноября 2017 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе V Международного научно-практического семинара «Оцифрованное достояние: сохранение, доступ, репрезентация» (далее – Семинар), который проводился в г. Киеве на базе Государственного политехнического музея при КПИ имени Игоря Сикорского (проспект Победы, 37, корпус 6).

  • 10-13 октября 2017 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе ХVІ Международного выставочного форума «Технологии защиты / ПожТех - 2017» (далее - Форум), который был проведен в городе Киеве на территории Международного выставочного центра (Броварской проспект, 15, ст. Метро «Левобережная»).

  • 29 сентября 2017 года специалисты отдела разработки перспективных и совершенствования традиционных технологий формирования СФД Бабенко В. В., Савич А. В., Надточий И. И., Тимров А. А. приняли участие в заседании круглого стола по теме «Архивное дело в Харьковской области: история и современность», которое состоялось в Государственном архиве Харьковской области.

  • В июне 2017 в городе Одесса специалисты НИИ микрографии Бабенко Владимир Владимирович и Подорожный Вячеслав Иванович участвовали в Международной научно-практической конференции из серии «Оцифрованное достояние: сохранение, доступ, репрезентация»

Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии
Copyright © 2018