29-31 травня 2013 року у м. Харкові відбулась ΧΧI Міжнародна науково-практична конференція (MicroCAD-2013) Національного технічного університету «ХПІ».

У рамках конференції, на базі НДІ мікрографії, проводилось засідання секції № 26 «Страховий фонд документації: актуальні проблеми та методи обробки і зберігання інформації».

Роботу секції № 26 відкрили доповіді:

  • заступника директора Державного департаменту СФД Меленця А. В. «Архитектура защиты облака от DDoS-атаки»;
  • Генерального директора ЗАТ «ДиМи-Центр», Російська Федерація, м. Москва, Тіміргалієва С. М. «Методика контроля качества сканирования документов, автоматизированный контроль».

Увагу привернули доповіді молодих вчених НДІ мікрографії:

  • Подорожного В. І. «Контроль якості бінарних зображень документів, що надають постачальники для формування СФД»;
  • Тімрова О. О. «Відновлення інформації зі згасаючих документів у електронному вигляді»;
  • Баранцева А. Ю. «Автоматичне оновлення спеціалізованого програмного забезпечення Державного реєстру документів СФД України на базі веб-технодлогій»;
  • Дікова Є. М. «Статистичний аналіз метрик вихідного коду прикладного програмного забезпечення Державного реєстру документів СФД України».

За результатами доповідей та виступів було визначено:

  1. Створення страхового фонду документації повинно враховувати науково обґрунтовані рекомендації як розвитку традиційних технологій, так і результати дослідження нових, перспективних технологій.
  2. Необхідно використовувати взаємний потенціал, удосконалювати наукову взаємодію і співпрацю, обмінюватися досвідом з науковими та навчальними закладами, профільними установами близького зарубіжжя.
  3. Потрібна подальша активізація участі фахівців НДІ мікрографії, Державного департаменту страхового фонду документації у наукових заходах (конференціях, семінарах, симпозіумах), які проводяться на Україні і в країнах близького і далекого зарубіжжя, для висвітлення діяльності системи страхового фонду документації.

Під час роботи секції відбулося підписання Протоколу про наміри між НДІ мікрографії (Україна, м. Харків) та ЗАТ «ДиМи-Центр» (Російська Федерація, м. Москва).

1
Доповідь заступника директора Державного департаменту СФД Меленця А. В.
2
Доповідь генерального директора «ДиМи-Центр» Тіміргалієва С. М.
3
Керівник секції № 26 ΧΧI Міжнародної науково-практичної конференції (MicroCAD-2013) Кривулькін І. М. (зліва), член оргкомітету VI Науково-технічної конференції НДІ мікрографії Соболь О. М. (справа)
4
Доповідь наукового співробітника НДІ мікрографії Подорожного В. І.
5
Доповідь наукового співробітника НДІ мікрографії Тімрова О. О.
6
Доповідь наукового співробітника НДІ мікрографії Баранцева А. Ю.
7
Доповідь наукового співробітника НДІ мікрографії Дікова Є. М.
8
Дискусія по доповіді Поліщука В. В.
9
Генеральний директор «ДиМи-Центра» Тіміргалієв С. М. висловлює свою точку зору по доповіді Подорожного В. І.
10
Підпис Протоколу про наміри між НДІ мікрографії та «ДиМи-Центром» (Кривулькін І. М. зліва, Тіміргалієв С. М. справа)
11
Передача до НДІ мікрографії Методики контролю якості сканування паперових документів та інших матеріалів згідно Протоколу про наміри (Кривулькін І. М зліва, Тіміргалієв С. М. справа)
12
Фото учасників конференції на пам’ять
Науково-дослідний, проектно-конструкторський та технологічний інститут мікрографії
Copyright © 2018