22 марта 2018 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе круглого стола на тему «Паспортизация объектов критической инфраструктуры: формирование системы анализа информации», который был организован совместно с Национальным институтом стратегических исследований, Государственной архивной службой Украины и Научно-исследовательским, проектно-конструкторским и технологическим институтом микрографии.

Круглый стол был проведён в г. Киеве в конференц-зале Национального института стратегических исследований (г. Киев, ул. Пирогова, 7а).

С докладом на тему «Использование информационных ресурсов Государственного реестра ПОО по видам и степени опасности, определения потенциальных рисков опасности техногенного происхождения» выступил директор НИИ микрографии Кривулькин И. М.