• 10 декабря 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. О результатах работы по теме 1.6 «Исследование перспектив развития производства по хранению документов страхового фонда документации и архивного дела с учетом особенностей производства специальных учреждений страхового фонда документации и Центрального государственного научно-технического архива Украины при перемещении на новые площади».
  • 3 декабря 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. О результатах работы по разработке автоматизированных цифровых технологий для технологических операций контроля и подготовки к микрофильмированию цифровых изображений документов страхового фонда документации Украины.
  • В ноябре 2019 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международным техническим комитетом ISO/TC 46 «Информация и документация» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • 21 ноября 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. О результатах работы по разработке метода и технологии создания изображений в цифровом виде, содержащие информацию о культурных ценностях для формирования, ведения и использования страхового фонда документации Украины.
  • 14 ноября 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрены вопросы:

    1. О принятии периодичности проведения аттестации научных работников НИИ микрографии.
    2. О результате работы по исследованию международных стандартов для адаптации нормативной базы государственной системы страхового фонда документации требованиям европейской системы технического регулирования и разработка рекомендаций по применению международного опыта в сфере формирования, ведения и использования страхового фонда документации Украины.
    3. О результате работы по исследованию процессов функционирования Государственного реестра техногенно и экологически опасных объектов для разработки рекомендаций по его дальнейшему развитию и адаптации к современным информационным технологиям.
  • В октябре 2019 года технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международным техническим комитетом ISO/TC 171 «Управление документооборотом» в области стандартизации провел онлайн-голосование одного проекта международного стандарта на указанной стадии разработки:

  • 24 октября 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. О рассмотрении проекта Тематического плана научных (научно-технических) работ, выполняемых Научно-исследовательским, проектно-конструкторским и технологическим институтом микрографии за счет средств Государственного бюджета Украины, на 2020 год.
  • 8 – 11 октября 2019 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе ХVIІІ Международной специализированной выставки «ТЕХНОЛОГИИ ЗАЩИТЫ/ПОЖТЕХ – 2019» (далее - Выставка), которая проводилась в городе Киеве на территории Международного выставочного центра (по адресу: Броварской проспект, 15 станция метро «Левобережная»).

  • 04 октября 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. Об одобрении распределения ответственных исполнителей и руководителей научных тем согласно проекту Тематического плана научных (научно-технических) работ, выполняемых Научно-исследовательским, проектно-конструкторским и технологическим институтом микрографии за счет средств Государственного бюджета Украины, на 2020 год.
  • В сентябре 2019 Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международным техническим комитетом ISO/TC 171 «Управление документооборотом» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

Перейти к полному списку актуальных новостей

Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии
Copyright © 2018