• 8 – 11 октября 2019 года специалисты НИИ микрографии приняли участие в работе ХVIІІ Международной специализированной выставки «ТЕХНОЛОГИИ ЗАЩИТЫ/ПОЖТЕХ – 2019» (далее - Выставка), которая проводилась в городе Киеве на территории Международного выставочного центра (по адресу: Броварской проспект, 15 станция метро «Левобережная»).

  • 04 октября 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. Об одобрении распределения ответственных исполнителей и руководителей научных тем согласно проекту Тематического плана научных (научно-технических) работ, выполняемых Научно-исследовательским, проектно-конструкторским и технологическим институтом микрографии за счет средств Государственного бюджета Украины, на 2020 год.
  • В сентябре 2019 Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международным техническим комитетом ISO/TC 171 «Управление документооборотом» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • Объявляется конкурс на замещение вакантной должности младшего научного сотрудника отдела исследований, разработки новых информационных технологий, компьютерных систем и ведения государственных реестров

    Основные требования к кандидату:

    • доктор наук или доктор философии (кандидат наук);
    • стаж работы не менее 10 лет;
    • наличие не менее 10 публикаций за последние 10 лет, в том числе не менее одной в периодических изданиях, включенных в международные научно метрические базы и/или патенты;
    • опыт научной, научно-технической и научно-организационной деятельности;
    • свободное владение персональным компьютером и телекоммуникационными средствами.
  • 26 сентября 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. О ходе работ по разработке метода и технологии создания изображений в цифровом виде, содержащие информацию о культурных ценностях, для формирования, ведения и использования страхового фонда документации Украины.
  • В августе 2019 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 42 «Фотография» и ISO/TC 171 «Управление документооборотом» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • 6 сентября 2019 года в Государственном архиве Харьковской области состоялось заседание научно-методического совета, в котором принял участие младший научный сотрудник НИИ микрографии Савич А. В.

  • 6 сентября 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. О рассмотрении оригинал-макета номера журнала «СФД (Страховой фонд документации)» №2 (27) 2019.
  • В июле 2019 года Технический комитет стандартизации ТК 40 «Страховой фонд документации» в рамках международного сотрудничества с международными техническими комитетами ISO/TC 46 «Информация и документация» и ISO/TC 292 «Безпека» в области стандартизации провел онлайн-голосование двух проектов международных стандартов на указанных стадиях разработки:

  • 23 июля 2019 года состоялось заседание Научно-технического совета института, на котором рассмотрен вопрос:

    1. О результате работы по исследованию методов и правил создания оригиналов документов для установления правил подготовки документации на промышленную продукцию для формирования страхового фонда документации.

Перейти к полному списку актуальных новостей

Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии
Copyright © 2018