18 мая 2017 г. на базе НИИ микрографии проходила работа секции № 25 «Страховой фонд документации: актуальные проблемы и методы обработки и хранения информации» ΧΧV Международной научно-практической конференции (MicroCAD-2017)Национального технического университета «Харьковский политехнический институт».

В работе секции приняли участие 22 специалиста, которые представляли: Центральный государственный научно-технический архив Украины, Национальный университет гражданской защиты Украины, Государственный архив Харьковской области, специальные учреждения страхового фонда документации Украины, НИИ микрографии и другие организации.

Одновременно 18-19 мая 2017 г. в НИИ микрографии (г. Харьков) состоялась X Научно-техническая конференция «Современное состояние и проблемные вопросы страхового фонда документации, перспективы развития и взаимодействия».

В ходе конференции проведен научно-практический семинар «Создание страхового фонда на культурные ценности, хранящиеся в библиотеках, музеях, архивах и частных коллекциях», посвященный применению технологий оцифровки для долгосрочного хранения и использования исторического, культурного и научного наследия из фондов архивов, музеев, библиотек и частных коллекций.

На конференцию подано тезисы 39 докладов. В роботе конференции приняли участие 53 специалиста.

На вышеуказанных научных мероприятиях бурную дискуссию вызвали доклады: научного сотрудника НИИ микрографии Бабенко В. В. «Съемка объектов культурного наследия в видимом и инфракрасном диапазонах для создания документов страхового фонда документации», научного сотрудника НИИ микрографии Баранцева А. Ю. «Программное обеспечение учета электронных документов архивного учреждения для их дальнейшего экспонирования в публичных сетях», заместителя заведующего отделом Беззубец Т. Я. «Исследование жизненного цикла микрофильма страхового фонда документации и установление общих технических требований к нему» и другие.

1
2
3
4
5
6
7
ΧΧV Международная научно-практическая конференция
(MicroCAD-2017)
Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии
Copyright © 2018