В соответствии с Соглашением о научно-техническом сотрудничестве между НУЦЗУ и НИИ микрографии со 2 по 17 января 2020 на базе Научно-методического центра института проведено ознакомительную практику одиннадцати адъюнктов НУЦЗУ на должности научного сотрудника отдела НИИ микрографии.

Целью практики было:

  • повышение уровня теоретической и практической подготовки адъюнктов НУЦЗУ;
  • привлечение адъюнктов к научной деятельности в области страхового фонда документации;
  • приобретение опыта проведения научно-исследовательской деятельности с использованием современного оборудования и технологий, освоения новейшими уникальными методами научных исследований;
  • набуття досвіду провадження науково-дослідної діяльності з використанням
  • сучасного обладнання і технологій, опанування новітніми унікальними методами наукових досліджень;
  • обеспечение информационного обмена и расширение научных контактов и тому подобное.

С учетом предложений, предоставленных НУЦЗУ были разработаны индивидуальные программы ознакомительной практики и График прохождения адъюнктами ознакомительной практики по отделам.

Для проведения ознакомительной практики адъюнктов использовалась материальная база научных отделов с привлечением сотрудников института по направлениям научных исследований.

Особое внимание адъюнктов привлекли работы института:

  • планирование и определение объемов работ, формы отчетности;
  • научно-техническое обеспечение ведения Государственного реестра страхового фонда документации;
  • программное обеспечение по автоматизации задач учета архивных документов для использования архивными учреждениями при предоставлении услуг с применением Интернет-технологий;
  • работы института по восстановлению угасающих текстов на бумажных носителях;
  • организация работы технического комитета ТК 40.

По результатам выполнения индивидуальной программы ознакомительной практики были утверждены отчеты адъюнктов.

Фото з ознайомчої практики ад’юнктів НУЦЗУ:

1
1
1
1
1
1
1
Научно-исследовательский, проектно-конструкторский и технологический институт микрографии
Copyright © 2018